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產(chǎn)品中心
GP200-HP可輕松實驗高壓及射頻測量
研發(fā)型手動高功率探針臺產(chǎn)品簡介:
GP200HP包含高壓芯片測試所需的完整配置,能夠在最短時間內(nèi)準確地完成測試要求。提供專業(yè)的測試方案,能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測試。
GP高功率探針臺產(chǎn)品特點:
機臺可輕松實現(xiàn)高壓及射頻測量。多種高壓接口可選,HV、SHV等。
提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統(tǒng)方案。
優(yōu)異的高壓三軸設計,保證I-V測試漏電精度達到pA級。
多孔吸附式載物臺設計,更好地兼容高壓薄晶圓固定。
高品質(zhì)顯微鏡搭配高分辨率CCD系統(tǒng),可直觀了解扎針情況,提高扎針的準確性和效率。
可升級的高低溫系統(tǒng),為芯片提供更加成熟穩(wěn)定的老化測試環(huán)境。
緊湊且可靠的機械設計,更適用于芯片的測試及建模系統(tǒng)升級。
能夠根據(jù)未來需求,可提供多種升級模塊,輕松實現(xiàn)探針臺功能升級。
短軸式拉桿設計,將更加符合新一代芯片系統(tǒng)測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定,將進一步防止誤操作,提高測試效率,節(jié)省成本。
結構: