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GP200SiPH硅光探針臺硅光探針臺

型號:GP200-SiPH8英寸硅光測試手動探針臺硅光探針臺應用:GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置,在短時間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。XY行程快速定位行程:210mm×210mm; 精調行程: 210mm×210mm ,精調分辨率:≤ 1.0 μm;驅動方式:手動Z軸行程10mm;驅動方式:手動 Theta旋轉快速旋轉角度:360°;精調角度:±15°,精調分辨率:<0.02°;驅動方式:手動Chuck臺尺寸:203mm(8inch) ;真空盤可調節高度:&p

GP200SiPH硅光探針臺硅光探針臺

產品詳情

型號:GP200-SiPH

8英寸硅光測試手動探針臺

硅光探針臺應用:GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置,在短時間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。

XY行程

快速定位行程:210mm×210mm; 精調行程: 210mm×210mm ,

精調分辨率:≤ 1.0 μm;驅動方式:手動

Z軸行程

10mm;驅動方式:手動  

Theta旋轉

快速旋轉角度:360°;精調角度:±15°,精調分辨率:<0.02°;驅動方式:手動

Chuck臺

尺寸:203mm(8inch) ;真空盤可調節高度:±5mm

真空快速切換開關,真空調節檔位:Center、2’、4’、8’

安裝方式:真空盤與主體絕緣

臺面精度

平面度:<10 μm

快速拉出結構

行程:100mm