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HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備

SD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HCTLP 測試機l 用于獲取器件保護電路的相關參數特性l 為器件升級提供支持，縮短產品周期l 提供普通和VF（非常快）型號。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。l 具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產率。l 可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測試儀結合使用現在提供大電流輸出

HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備

產品詳情

SD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備


HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備


HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC


TLP 測試機

l 用于獲取器件保護電路的相關參數特性

l 為器件升級提供支持，縮短產品周期

l 提供普通和VF（非常快）型號。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脈沖寬度。

l   具有半自動探針臺整合功能的可選自動測試可大大提高生產率。

l   可與HED-W5000，ESD（HBM，MM）測試儀結合使用現在提供大電流輸出型號（T5000-HC）。

HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備


TLP 測試機 產品系列

此設備是對保護電路的工作特性進行模擬測試的設備

對集成電路里保護電路的工作參數的收集與分析有很大幫助

也可進行VF-TLP測試

產品名/型號設備說明設備介紹視頻

           HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備            
HED-T5000/
           HED-T5000VF

此設備配備了先進的測試模式
           
           具備印加脈沖寬度為100ns/200ns的normal TLP測試與寬度到1ns的VF-TLP(Very Fast TLP)測試模式
           
           有助于驗證HBM/CDM模式的測試
           
           對于器件管腳的入射波和器件管腳發出的反射波，都可在示波器上確認到
           
           此數據會自動保存，并在專用的顯示軟件上表示
           
           專用顯示軟件可對入射波/反射波的合計值，snapback特性以及漏電流測試的電流值進行圖形描繪
           
           被保存的示波器上的數據可以進行高自由度的演算處理
           
           比如，對于不同工藝的晶體管的ON電壓及可以加在保護電路上的最大電流值等，可以通過曲線的重疊描繪來確認其差異
           
           并且可以與半自動探針臺連接，實現TLP測試的自動化
           
           由于可以在Wafer level上進行印加管腳間或芯片間的自動移位，所以能夠很大地提升測試效率



           HANWA HED-T5000 傳輸線脈沖 (TLP)測試設備            
HED-T5000-HC

目前，對于半導體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加
           
           對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在本設備上得以實現、并有助于高耐壓元件工作參數的取得及分析